【摘要】熱敏電阻器電流時間特性測試儀,用于彩電消磁 熱敏電阻器電流隨時間衰減特性的動態(tài)測試,包括直 流穩(wěn)壓電源,測試取樣回路、放大濾波電路、模擬多路 開關、AD變換器、微型計算機、鍵盤、顯示器。將 上述各單元集成塊安裝于TP801A單板機上
【摘要】 省略其它視圖。 【專利類型】外觀設計 【申請人】郭大路 【申請人類型】個人 【申請人地址】300100天津市南開區(qū)西南角交易大廈 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】天津市 【申請人區(qū)縣】南開區(qū) 【申請?zhí)枴緾N90300045.8 【申請日】1990-01-07 【申請年份】1990 【公開公告號】CN3007412S 【公開公告日】1991-01-02 【公開公告年份】1991 【授權公告號】CN3007412S 【授權公告日】1991-01-02 【授權公告年份】1991.0 【發(fā)明人】郭大路 【主權項內容】無 【當前權利人】郭大路 【當前專利權人地址】天津市南開區(qū)西南角交易大廈
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