【摘要】一種可靠預(yù)測(cè)HgCdTe光電響應(yīng)截止波長(zhǎng)的非接觸實(shí)驗(yàn)方法,系綜合運(yùn)用透射、光電流、光調(diào)制反射和光致發(fā)光多種光譜表征手段,對(duì)77K溫度下材料的截止能量進(jìn)行研究。結(jié)果表明:由于缺陷雜質(zhì)能級(jí)的存在,使傳統(tǒng)的透射光譜不能準(zhǔn)確預(yù)測(cè)材料的光電響
【摘要】 左視圖和右視圖對(duì)稱,省略左視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請(qǐng)人】俞阿章 【申請(qǐng)人類型】個(gè)人 【申請(qǐng)人地址】201404上海市華山路1520弄29號(hào) 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國(guó) 【申請(qǐng)人城市】上海市 【申請(qǐng)人區(qū)縣】金山區(qū) 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200630032808.4 【申請(qǐng)日】2006-01-09 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN3596359D 【公開公告日】2007-01-03 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN3596359D 【授權(quán)公告日】2007-01-03 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】俞阿章 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無(wú) 【當(dāng)前權(quán)利人】俞阿章 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市華山路1520弄29號(hào)
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