【摘要】本實(shí)用新型涉及一種包裝桶，包括：桶體(1)、桶蓋(2)、桶底部(3)；所述的桶蓋(2)的上部有凸出的卡口(21)，桶底部(3)有與凸出的卡口(21)相對(duì)應(yīng)的凹環(huán)(31)；所述的凹環(huán)(31)與凸出的卡口(210可以是可分離或密接觸固定
【摘要】 一種計(jì)算機(jī)應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域的基于分塊的蒙特卡 洛體繪制方法，步驟為：(1)體數(shù)據(jù)的分塊；(2)采樣點(diǎn)的生成和 編碼：采樣點(diǎn)的生成包括采樣點(diǎn)的粗略位置、確定采樣點(diǎn)的精 確位置；編碼時(shí)，首先將采樣點(diǎn)的位置減去塊的位置，得到采 樣點(diǎn)相對(duì)于塊 的位移，然后將這個(gè)位移歸一化并量化為0－255大小的范圍； (3)采樣點(diǎn)的投射：先得到塊在圖像坐標(biāo)系中的位置，然后查找 對(duì)應(yīng)的位移在圖像坐標(biāo)系中的偏移量，最后查找所得的偏移量 加上塊在圖像坐標(biāo)系中的位置得到采樣點(diǎn)的投射位置；(4)量 化。本發(fā)明提高了經(jīng)典蒙特卡洛體繪制采樣方法收斂性，有效 地降低了內(nèi)存的消耗，并一定程度上提高了投射速度，增強(qiáng)了 量化的魯棒性，得到了更好的體繪制圖像效果。。該數(shù)據(jù)由<馬克數(shù)據(jù)網(wǎng)>整理 【專利類型】發(fā)明申請(qǐng) 【申請(qǐng)人】上海交通大學(xué) 【申請(qǐng)人類型】學(xué)校 【申請(qǐng)人地址】200240上海市閔行區(qū)東川路800號(hào) 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國 【申請(qǐng)人城市】上海市 【申請(qǐng)人區(qū)縣】閔行區(qū) 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200610117570.4 【申請(qǐng)日】2006-10-26 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN1967595A 【公開公告日】2007-05-23 【公開公告年份】2007 【IPC分類號(hào)】G06T15/00 【發(fā)明人】楊杰; 李曉亮; 姚莉秀 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1、一種基于分塊的蒙特卡洛體繪制方法，其特征在于包括如下步驟： (1)體數(shù)據(jù)的分塊 將原始的大規(guī)模數(shù)據(jù)分成許多小的體數(shù)據(jù)，選定塊的大小后，通過使用0 填補(bǔ)空白位置，將原始數(shù)據(jù)的大小擴(kuò)大為塊大小的整數(shù)倍，這樣將原始的數(shù)據(jù)分 成互補(bǔ)重疊的許多小塊，分塊后按照下列步驟依次處理各個(gè)塊； (2)采樣點(diǎn)的生成和編碼 對(duì)第k個(gè)塊，首先確定在本塊中采樣點(diǎn)的數(shù)目Mk，通過設(shè)定一個(gè)閾值δ， 并計(jì)算該塊內(nèi)所有體素?cái)?shù)據(jù)的和Ck，則有Mk＝δ·Ck； 在確定所需生成的采樣點(diǎn)數(shù)目后，采樣點(diǎn)的生成分兩步完成：第一步，根據(jù) 塊的概率密度函數(shù)來確定采樣點(diǎn)的粗略位置，通過生成Mk個(gè)隨機(jī)數(shù)，然后映射 到所需的分布來定位Mk個(gè)體元的位置，這個(gè)位置是采樣點(diǎn)的粗略位置；第二步， 根據(jù)體數(shù)據(jù)要采用的插值方法，通過增加一個(gè)偏移量來確定采樣點(diǎn)的精確位置， 偏移量的計(jì)算是通過將隨機(jī)數(shù)映射到歸一化的的插值核函數(shù)來得到； 在對(duì)每個(gè)采樣點(diǎn)進(jìn)行編碼時(shí)，首先將采樣點(diǎn)的位置減去塊的位置，得到采樣 點(diǎn)相對(duì)于塊的位移，然后將這個(gè)位移歸一化并量化為0-255大小的范圍，這時(shí)， 僅需使用3個(gè)字節(jié)即可保存一個(gè)采樣點(diǎn)的位置信息； (3)采樣點(diǎn)的投射 在投射過程中，首先根據(jù)給定的投射方向求得投射變換矩陣，然后建立三個(gè) 平行于坐標(biāo)軸的大小為256的位移查找表，即分別求取在三個(gè)軸向上，位移在 0-255時(shí)投射到圖像坐標(biāo)后的位移向量，在查找表初始化后，投射過程是依次按 塊來進(jìn)行的； 對(duì)每個(gè)塊，首先根據(jù)投射變換矩陣將塊的位置投射到圖像平面，得到塊在圖 像坐標(biāo)系中的位置，然后，對(duì)塊中的每個(gè)采樣點(diǎn)，根據(jù)編碼后的偏移量，在位移 查找表中查找對(duì)應(yīng)的位移在圖像坐標(biāo)系中的偏移量，最后查找所得的偏移量加上 塊在圖像坐標(biāo)系中的位置就得到采樣點(diǎn)的投射位置； 當(dāng)?shù)玫讲蓸狱c(diǎn)的投射位置后，將其量化到對(duì)應(yīng)的圖像像素點(diǎn)，同時(shí)將該像素 的值增加Ck/Mk，當(dāng)所有的塊中的采樣點(diǎn)投射完成后，將圖像歸一化并量化到 所需的灰階； (4)量化 首先對(duì)投射后圖像的所有像素值求平均，并令平均值對(duì)應(yīng)的量化后的值為最 終量化后圖像的平均亮度。 【當(dāng)前權(quán)利人】上海交通大學(xué) 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市閔行區(qū)東川路800號(hào) 【統(tǒng)一社會(huì)信用代碼】1210000042500615X0 【被引證次數(shù)】8 【被他引次數(shù)】8.0 【家族被引證次數(shù)】8
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