【專利類型】外觀設(shè)計【申請人】上海規(guī)矩儀器科技有限公司【申請人類型】企業(yè)【申請人地址】201708上海市青浦區(qū)華新鎮(zhèn)華騰路1688號【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】上海市【申請人區(qū)縣】青浦區(qū)【申請?zhí)枴緾N200630034247.1【申請日
【摘要】 使用本外觀設(shè)計的產(chǎn)品的仰視圖不可見,且無設(shè)計要點,省略仰 視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】上海中凱企業(yè)集團有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】200041上海市石門一路116號3樓 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】靜安區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630047129.4 【申請日】2006-12-08 【申請年份】2006 【公開公告號】CN300696732D 【公開公告日】2007-10-03 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN300696732D 【授權(quán)公告日】2007-10-03 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】帕特里克·克利福德; 邁克爾·湯姆森; 亨利·珂勞斯爾斯 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當前權(quán)利人】上海中凱企業(yè)集團有限公司 【當前專利權(quán)人地址】上海市石門一路116號3樓
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