【摘要】本實(shí)用新型連續(xù)高精度金屬帶材X射線測厚儀,克服早期X射線測厚儀精度低的缺點(diǎn),實(shí)現(xiàn)的連續(xù)高精度金屬帶材測厚。本實(shí)用新型使用中央控制處理器與運(yùn)算器、現(xiàn)場控制器連接,中央控制處理器與輸出接口、現(xiàn)場顯示器、X射線高壓電源、現(xiàn)場控制器、冷卻控
【摘要】 后視圖與主視圖對(duì)稱,省略后視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請(qǐng)人】倪鑫 【申請(qǐng)人類型】個(gè)人 【申請(qǐng)人地址】100730北京市東城區(qū)東交民巷1號(hào) 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國 【申請(qǐng)人城市】北京市 【申請(qǐng)人區(qū)縣】東城區(qū) 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200630197193.0 【申請(qǐng)日】2006-12-06 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN300716600D 【公開公告日】2007-12-05 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN300716600D 【授權(quán)公告日】2007-12-05 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】張羅 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】倪鑫 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】北京市東城區(qū)東交民巷1號(hào)
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