【摘要】本發(fā)明提供了一種用于檢測核徑跡雙卡防偽標(biāo)識的核成像分析儀，其特征在于：以載物臺中心為圓心設(shè)置分析盤，采用核成像技術(shù)為引導(dǎo)對原子核徑跡立體分布進(jìn)行斷層掃描，從而可確切鑒別核徑跡載體真?zhèn)?，為核徑跡系列產(chǎn)品必備的檢測設(shè)備。【專利類型】發(fā)明
【摘要】 本外觀設(shè)計的設(shè)計要點在于： 整體設(shè)計考慮防塵、防水噴濺，上、下盒之間采用合頁軸連接，并 用螺釘固定。 上蓋平面中軸線起凸圓弧形，在凸起圓弧部中間位置有面板凹陷， 便于平滑貼面板。 在下盒體有上、下安裝兩個安裝耳翼，可以牢固的安裝到背板上， 避免了掛接的方式。 所有的信號線有規(guī)律的引到殼體外部的接線端子排，便于外部設(shè)備 與控制器之間的接線。 保險管安裝在外壁上，作了防護(hù)等級處理，便于拆裝。 大液晶屏，彩色背光顯示，方形布局的面板設(shè)計。 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】北京康安生石化機(jī)械有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】100176北京市北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)康安路1號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區(qū)縣】大興區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630021803.1 【申請日】2006-06-23 【申請年份】2006 【公開公告號】CN3645839D 【公開公告日】2007-05-16 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN3645839D 【授權(quán)公告日】2007-05-16 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】楊劍波 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】北京優(yōu)創(chuàng)博宇科技有限公司 【專利權(quán)人類型】外商投資企業(yè)
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