【摘要】本發(fā)明系直接處理接近數(shù)學(xué)公式的“機(jī)器表達(dá)式”的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，是一種新的計(jì)算機(jī)設(shè)計(jì)系統(tǒng)。目前高性能的向量機(jī)和陣列機(jī)，造價(jià)高研制維修難，編程序難。本發(fā)明是設(shè)計(jì)一種面向VLSI技術(shù)，具有并行、流水、數(shù)據(jù)流特點(diǎn)的樹型多處理器系統(tǒng)，由于采用允許
【摘要】 本發(fā)明為一種微型電測式無損測定殘余應(yīng)力的方法。它是一種利用低壓直流電源、毫伏表和自重式三支點(diǎn)二觸頭可移動(dòng)的傳感器或磁吸式傳感器進(jìn)行物理稱量的方法。當(dāng)零、構(gòu)件的殘余應(yīng)力不同時(shí)，其電阻也不同，通過傳感器所測得的電壓也不同，從在“零應(yīng)力”試樣和待測工件的測點(diǎn)上所測得的電壓差值，根據(jù)標(biāo)定曲面確定待測工件測點(diǎn)的殘余應(yīng)力值?？稍谄矫?、曲面和30×30×30毫米以上的內(nèi)腔中進(jìn)行測量，準(zhǔn)確度可達(dá)±30～40MPa。 來源：百度馬 克 數(shù)據(jù)網(wǎng) 【專利類型】發(fā)明授權(quán) 【申請人】重慶大學(xué) 【申請人類型】學(xué)校 【申請人地址】四川省重慶市沙坪壩 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】重慶市 【申請人區(qū)縣】沙坪壩區(qū) 【申請?zhí)枴緾N88108019.5 【申請日】1988-11-18 【申請年份】1988 【公開公告號】CN1013997B 【公開公告日】1991-09-18 【公開公告年份】1991 【授權(quán)公告號】CN1013997B 【授權(quán)公告日】1991-09-18 【授權(quán)公告年份】1991.0 【IPC分類號】G01L1/20 【發(fā)明人】馮家驊 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1.一種微型電測式無損測定殘余應(yīng)力的方法， 它是根據(jù)金屬內(nèi)部的電阻對應(yīng)力引起的應(yīng)變敏感這 個(gè)現(xiàn)象，利用低壓直流電源、毫伏表和自重式三支 點(diǎn)二觸頭可移動(dòng)的傳感器來無損地測量殘余應(yīng)力， 其實(shí)施步驟依次為： a.首先準(zhǔn)備好一塊經(jīng)二次退火充分消除殘余應(yīng) 力的“零應(yīng)力”試樣，其材料應(yīng)與待測工件完全相 同，其厚度和形狀盡量相似； b.“零應(yīng)力”試樣測點(diǎn)和待測工件測點(diǎn)都用同號 細(xì)砂紙打磨光。它們的表面狀態(tài)應(yīng)盡量一致；它們 在試樣中所處的部位最好也盡量相同； c.測量時(shí)，用傳感器在“零應(yīng)力”試樣測點(diǎn)和待 測工件測點(diǎn)上交替測量。根據(jù)在待測方向和與待測 方向垂直的方向所測得的“零應(yīng)力”試樣測點(diǎn)與待測 工件測點(diǎn)的電壓差值，從標(biāo)定曲面即可得到該測點(diǎn) 在待測方向的殘余應(yīng)力值； d.標(biāo)定時(shí)，將采取步驟a.b.c在“零應(yīng)力”試樣 與標(biāo)定試樣的一系列測點(diǎn)上所得到的電壓差值和用 傳統(tǒng)的方法，在標(biāo)定試樣上相同的一系列測點(diǎn)測得 的殘余應(yīng)力值進(jìn)行對比，得出標(biāo)定曲面； e.標(biāo)定試樣的材料應(yīng)與待測工件完全相同，厚 度和形狀最好盡量一致，并人為地使它具有相當(dāng)大 幅度的拉、壓殘余應(yīng)力。 【當(dāng)前權(quán)利人】重慶大學(xué) 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】四川省重慶市沙坪壩 【統(tǒng)一社會信用代碼】12100000400002697C 【家族被引證次數(shù)】3.0
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