【摘要】本發(fā)明涉及一種表面三維形貌非接觸測量儀，屬 光學(xué)測量儀器，用于測量表面微觀幾何形貌及粗糙 度。本測量儀主要由光源，起偏器，分光棱鏡，顯微物 鏡，14波片，檢偏器，光電面陣探測器等組成，與已 有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于測量分辨率高，
【摘要】 多功能徽分電位溶出儀，采用二階乃至三階微分電位溶出分析理論研制而成，儀器由恒電位器、高輸入阻抗放大器，微分放大器，絕對值放大器、倒數(shù)運算器，時序電路，電位記錄范圍控制器，恒流源，末級輸出放大等單元電路組成，并設(shè)置了二階徽分電路部分(D2pSA)乃至三階微分電路部分(D3pSA)，使儀器的靈敏度大大提高，具有多種功能，可進行常規(guī)pSA，恒電流電位溶出分析，一階、二階、三階微分電位溶出分析等，能廣泛地應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、環(huán)保、食品加工及醫(yī)藥衛(wèi)生等部分對某些物料中徽、痕量元素的測定。 【專利類型】發(fā)明授權(quán) 【申請人】四川省地質(zhì)礦產(chǎn)局二○七地質(zhì)隊 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】四川省樂山市市中區(qū)人民西路1號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】樂山市 【申請人區(qū)縣】市中區(qū) 【申請?zhí)枴緾N89105898.2 【申請日】1989-04-23 【申請年份】1989 【公開公告號】CN1012529B 【公開公告日】1991-05-01 【公開公告年份】1991 【授權(quán)公告號】CN1012529B 【授權(quán)公告日】1991-05-01 【授權(quán)公告年份】1991.0 【IPC分類號】G01N27/26 【發(fā)明人】郭學(xué)文 【主權(quán)項內(nèi)容】1.一種多功能微分電位溶出儀，由恒電位器電路、高輸入阻 抗放大器、微分放大器、絕對值放大器、倒數(shù)運算器、時序電路、 電位記錄范圍控制器、恒流源、末級輸出放大等單元電路組成，其 特征是在倒數(shù)運算器單元電路的后級，設(shè)置了二階微分電路部分， 二階微分部分由二階導(dǎo)數(shù)放大器和四象限乘法器組成，二階導(dǎo)數(shù)放 大器由二級運放A12、A13構(gòu)成，對從前級獲得的一階微分信 號D求導(dǎo)，四象限乘法器電路包括一集成電路和一高阻運放A14， 通過對求導(dǎo)后的信號求積得到二階微分信號D2。 【當(dāng)前權(quán)利人】四川省地質(zhì)礦產(chǎn)局二○七地質(zhì)隊 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】四川省樂山市市中區(qū)人民西路1號 【被引證次數(shù)】2.0 【被他引次數(shù)】2.0 【家族被引證次數(shù)】4.0
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