【摘要】本外觀設(shè)計(jì)的左視圖、右視圖、后視圖與主視圖相同，省略左視圖、右視圖、 后視圖?！緦＠愋汀客庥^設(shè)計(jì)【申請人】JMP紐柯有限公司【申請人類型】企業(yè)【申請人地址】香港九龍九龍灣【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】香港特別行政區(qū)【申請?zhí)枴緾N
【摘要】 本發(fā)明是在固體表面形成的一種反射式一維表 面波衍射光棚。在激光束的照射下，產(chǎn)生一列線陣分 布的衍射光斑，采用線陣電荷耦合光電器件等系統(tǒng)， 得到高精度、快速、自動的光信息處理，取得固體表面 與界面的應(yīng)力、應(yīng)變、原子擴(kuò)散等的動態(tài)特性，為生 產(chǎn)、科研、教學(xué)實(shí)驗(yàn)開創(chuàng)了研究分析的新方法，具有很 高的應(yīng)用價(jià)值。 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】西北工業(yè)大學(xué) 【申請人類型】學(xué)校 【申請人地址】710072陜西省西安市友誼西路127號應(yīng)用物理系 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】西安市 【申請人區(qū)縣】碑林區(qū) 【申請?zhí)枴緾N91101993.6 【申請日】1991-03-27 【申請年份】1991 【公開公告號】CN1054832A 【公開公告日】1991-09-25 【公開公告年份】1991 【IPC分類號】G01N13/00; G01N21/17; F04D29/44 【發(fā)明人】楊永正 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1、本發(fā)明涉及一種測試固體表面與界面特性的方法，其特征在于：在固體材料表面上用光刻、離子濺射、刻劃的方法制作出平行等間隔的槽溝，原子自動地從具有高化學(xué)勢的峰流向低化學(xué)勢的谷，形成反射式固體一維表面波光柵； 【當(dāng)前權(quán)利人】西北工業(yè)大學(xué) 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】陜西省西安市友誼西路127號應(yīng)用物理系 【統(tǒng)一社會信用代碼】12100000435231705W 【被引證次數(shù)】2.0 【被他引次數(shù)】2.0 【家族引證次數(shù)】1.0 【家族被引證次數(shù)】6.0
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