【摘要】本外觀設(shè)計的左視圖、右視圖、后視圖與主視圖相同,省略左視圖、右視圖、 后視圖。【專利類型】外觀設(shè)計【申請人】JMP紐柯有限公司【申請人類型】企業(yè)【申請人地址】香港九龍九龍灣【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】香港特別行政區(qū)【申請?zhí)枴緾N
【摘要】 左視圖與右視圖相同,故省略左視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】矽電子有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】香港九龍青山道489 491號香港工業(yè)中心6字樓C9-10 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】香港特別行政區(qū) 【申請?zhí)枴緾N91300741.2 【申請日】1991-04-04 【申請年份】1991 【公開公告號】CN3011811S 【公開公告日】1991-12-25 【公開公告年份】1991 【授權(quán)公告號】CN3011811S 【授權(quán)公告日】1991-12-25 【授權(quán)公告年份】1991.0 【發(fā)明人】彭志江 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當前權(quán)利人】矽電子有限公司 【當前專利權(quán)人地址】香港九龍青山道489491號香港工業(yè)中心6字樓C9-10
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