【專利類型】外觀設(shè)計【申請人】上海嘉倍儀器設(shè)備有限公司【申請人類型】企業(yè)【申請人地址】200336上海市長寧區(qū)虹橋路1860號【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】上海市【申請人區(qū)縣】長寧區(qū)【申請?zhí)枴緾N200630036048.4【申請日】20
【摘要】 省略其他視圖。 【專利類型】外觀設(shè)計 【申請人】倪玉祥 【申請人類型】個人 【申請人地址】201100上海市羅錦路656弄羅陽四村57號603室 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】閔行區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200630033694.5 【申請日】2006-02-15 【申請年份】2006 【公開公告號】CN300683447D 【公開公告日】2007-08-29 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN300683447D 【授權(quán)公告日】2007-08-29 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】倪玉祥; 劉紅喜; 倪靜波 【主權(quán)項內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】倪玉祥 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市羅錦路656弄羅陽四村57號603室
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